三阶本征模AFM解析有机半导体薄膜溶剂化结构

ACS Nano 论文作者团队报告，用中等刚度悬臂的三阶本征模式原子力显微镜（AFM），在环境条件下直接探测小分子有机半导体薄膜与气相环境界面处液层的界面溶剂化结构。 该团队称，这一方法还能跨分子台阶实现真正的分子级分辨成像，给出面间分子组织与晶体生长机制的细节。作者据此将三阶本征模式 AFM 定位为高分辨表征分子堆积、阐明表面功能与界面结构关系的方法。

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还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。